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X 射線(xiàn)熒光測試儀，進(jìn)口測厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，德國思創(chuàng )涂層測厚儀，可自動(dòng)測量鍍層厚度和分析材料組分

特點(diǎn)

• 配備了半導體探測器，涂層干膜測厚儀，由于有更好的信噪比，廣州涂層測厚儀，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量
• 使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn)，塑料涂層測厚儀，但因為其信號量較低，合肥涂層測厚儀，不適合測量十分細小的結構  
• 底部C型開(kāi)槽的大容量測量艙
• 有彈出功能的快速、可編程XY平臺

典型應用領(lǐng)域

• 鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
• 來(lái)料檢驗，南昌 涂層測厚儀，生產(chǎn)監控
• 研究和開(kāi)發(fā)
• 電子工業(yè)
• 接插件和觸點(diǎn)
• 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
• 可以測量數納米薄的鍍層，尼克斯涂層測厚儀，如印刷線(xiàn)路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
• 痕量元素分析
• 在有“高可靠性”要求的應用中確定鉛（Pb）含量
• 硬質(zhì)鍍層分析