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X 射線(xiàn)熒光測試儀 |
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| 型 號：XDAL |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標：不適合測量十分細小的結構 |
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樂(lè )山X 射線(xiàn)熒光測試儀-XDAL-德國菲希爾Fischer
X 射線(xiàn)熒光測試儀，筆式涂層測厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，涂層測厚儀應用，可自動(dòng)測量鍍層厚度和分析材料組分
特點(diǎn)
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配備了半導體探測器，電渦流涂層測厚儀，由于有更好的信噪比，涂層測厚儀用途，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量
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使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn)，便攜式涂層測厚儀，但因為其信號量較低，鉻層測厚儀，不適合測量十分細小的結構
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底部C型開(kāi)槽的大容量測量艙
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有彈出功能的快速、可編程XY平臺
典型應用領(lǐng)域
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鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
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來(lái)料檢驗，紅外線(xiàn)測厚儀，生產(chǎn)監控
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研究和開(kāi)發(fā)
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電子工業(yè)
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接插件和觸點(diǎn)
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黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
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可以測量數納米薄的鍍層，mpo涂層測厚儀，如印刷線(xiàn)路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
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痕量元素分析
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在有“高可靠性”要求的應用中確定鉛（Pb）含量
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硬質(zhì)鍍層分析
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