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技術文章
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    微分干涉相襯顯微鏡
    型 號:TMV3230 DIC
    品 牌:時代儀器
    技術指標:適用于對多種物體的顯微觀察
    玉樹微分干涉相襯顯微鏡-TMV3230 DIC-時代儀器
    產(chǎn)品概述:

    適用于對多種物體的顯微觀察。

    功能特點:

    配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置,具有圖像立體感且清晰、造型美觀,操作方便等特點,是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。

    技術參數(shù):

    ★     采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng),可提供卓越的光學性能。

    ★     緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。

    ★     符合人機工程學要求的理想設計,,使操作更方便舒適,,空間更廣闊。

    ★     內(nèi)置式可切換偏光觀察裝置,,起偏器可360°旋轉(zhuǎn)。

    ★     微分干涉相襯觀察時圖像清晰,干涉色均勻,具有較強的浮雕感。

    基本配置:

    可選附件:


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    www.enablrclm.com 玉樹微分干涉相襯顯微鏡 版權所有 備案號: 魯ICP備08106748號
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